Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen zum Messen oder Prüfen, in diesem Kapitel anderweit weder genannt noch inbegriffen; Profilprojektoren
Auswuchtmaschinen
Prüfstände
zum Prüfen von Halbleiterscheiben (wafers) oder Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen) oder zum Prüfen von Fotomasken und Reticles für die Herstellung von Halbleiterbauelementen (einschließlich integrierter Schaltungen)
andere
Profilprojektoren
andere
andere Instrumente, Apparate, Geräte und Maschinen
zum Messen oder Prüfen geometrischer Größen
andere
Teile und Zubehör